? ? ? ?在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量涂層厚度的過(guò)程中，為了使得涂層厚度值測(cè)量準(zhǔn)確，我們應(yīng)在每天測(cè)量之前在測(cè)量場(chǎng)所環(huán)境下對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，那么，怎么對(duì)涂層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)呢？同一基體同一環(huán)境試件只需要一次校準(zhǔn)即可連續(xù)性的進(jìn)行測(cè)量，方便提高質(zhì)檢過(guò)程中的效率。在對(duì)涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)中，有幾種校準(zhǔn)片，也有多種校準(zhǔn)方法，下面我們就一一對(duì)其進(jìn)行闡述。
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涂層測(cè)厚儀

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? ? ? ?對(duì)于涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)片，任何已知厚度的箔或者試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片使用。如果是磁性方法，箔就是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。如果是渦流方法，就會(huì)采用塑料箔。箔有利于去面上的校準(zhǔn)，而比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片是指采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層（覆蓋層與基體有縫隙會(huì)導(dǎo)致校準(zhǔn)失敗，這點(diǎn)要非常注意）作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。

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校準(zhǔn)前對(duì)基體的說(shuō)明：

? ? ? ?對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：

1、在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；

2、用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

如果待測(cè)覆蓋層的曲率已到達(dá)不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

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? ? ? ?涂層測(cè)厚儀多種校準(zhǔn)方法：涂層測(cè)厚儀有三種校準(zhǔn)方法：零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。零點(diǎn)校準(zhǔn)即在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示，按ZERO鍵，顯示<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。重復(fù)上述兩步驟可獲得更為準(zhǔn)確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。注：本儀器提供負(fù)數(shù)顯示，為用戶更方便的選擇零點(diǎn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。先校準(zhǔn)零點(diǎn)，即重復(fù)零點(diǎn)校準(zhǔn)，在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示。用上下箭頭修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。注意：上下鍵校準(zhǔn)時(shí)，單次按動(dòng)跳動(dòng)一個(gè)數(shù)，長(zhǎng)按會(huì)連續(xù)跳動(dòng)。涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法就講到這里，是不是非常簡(jiǎn)單呢。