? ? ? ?非接觸式測(cè)厚儀顧名思義就是儀器或者是設(shè)備在對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量時(shí)，并不需要與被測(cè)物體進(jìn)行任何的接觸，就能夠?qū)ξ矬w的厚度進(jìn)行測(cè)量，并且直接給出測(cè)量的數(shù)值。非接觸測(cè)量厚度的儀器或者是設(shè)備，往往采用的是釋放激光、射線、紅外這種可見(jiàn)或者不可見(jiàn)的方式，到達(dá)被測(cè)物體表面或者是通過(guò)內(nèi)部，通過(guò)一定的測(cè)量原理對(duì)被測(cè)物體的厚度值進(jìn)行直接的測(cè)量。非接觸式測(cè)厚儀有激光測(cè)厚儀、電渦流測(cè)厚儀，根據(jù)應(yīng)用的測(cè)量行業(yè)不同，又可分為薄膜測(cè)厚儀，鍍層測(cè)厚儀和板材測(cè)厚儀等等。非接觸式測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)能夠很好的保護(hù)所測(cè)物體，不過(guò)這種非接觸式的測(cè)量?jī)x器或者設(shè)備，在實(shí)際的測(cè)量過(guò)程中并不是這類(lèi)儀器最大的優(yōu)點(diǎn)。那么，對(duì)于非接觸式測(cè)厚儀器設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)有哪些呢？
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測(cè)厚儀

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1、可以避免破壞被測(cè)物體表面。在接觸式厚度測(cè)量?jī)x器的缺點(diǎn)中，我們就提到過(guò)，接觸式測(cè)厚儀器有時(shí)候需要清理被測(cè)物體表面才能測(cè)量（有的測(cè)量會(huì)破壞物體表面涂層），或者說(shuō)儀器在測(cè)量時(shí)會(huì)對(duì)脆弱的被測(cè)物體表面造成壓痕或者是夾痕。非接觸式的測(cè)量這不會(huì)存在這類(lèi)的問(wèn)題，可以達(dá)到測(cè)量準(zhǔn)確的目的，又避免破壞了被測(cè)物體表面。

2、可以運(yùn)用在高溫、帶電、裝有腐蝕性容器的物體厚度測(cè)量，這類(lèi)物體對(duì)于人類(lèi)而言都屬于潛在危險(xiǎn)物，所以我們應(yīng)該盡可能的避免接觸這類(lèi)物體，但是又需要滿足這類(lèi)物體的厚度測(cè)量需要，那只能采用非接觸式的儀器或者設(shè)備對(duì)其進(jìn)行厚度測(cè)量。而且對(duì)于容器、管道類(lèi)接觸式測(cè)量方式無(wú)法完成厚度測(cè)量的物體中，非接觸式測(cè)量能夠很好的解決這個(gè)問(wèn)題。

3、有的非接觸式厚度測(cè)量設(shè)備可以連續(xù)性進(jìn)行測(cè)量。例如，在工業(yè)生產(chǎn)中，多使用激光測(cè)厚儀用來(lái)連續(xù)測(cè)量產(chǎn)品線上產(chǎn)品的厚度，這點(diǎn)對(duì)于產(chǎn)品檢測(cè)自動(dòng)化是非常有利的。而不必像接觸式測(cè)量那樣，采用人工進(jìn)行抽樣測(cè)量，效率低且只能得到樣品大概合格的百分比，并不能100%的對(duì)厚度不合格的不良品進(jìn)行檢測(cè)出來(lái)。

4、數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確且直觀。非接觸式測(cè)厚儀或者設(shè)備一般都通過(guò)內(nèi)置軟件或者相應(yīng)的電腦設(shè)備進(jìn)行統(tǒng)計(jì)控制，能夠?qū)⑺袛?shù)據(jù)直接顯示在報(bào)表上，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行整體的分析、留存、反饋。相對(duì)與接觸式測(cè)量的人工讀數(shù)、整理、再分析反饋，效率更高，數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確直觀。

5、可以在線式測(cè)量，并接入自動(dòng)化控制網(wǎng)絡(luò)。通過(guò)前面兩點(diǎn)的介紹，非接觸式測(cè)厚儀器或者設(shè)備可以固定安裝，并且通過(guò)一定的方式連接入自動(dòng)化控制網(wǎng)，進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，得出數(shù)據(jù)，并反饋到下一級(jí)質(zhì)量控制系統(tǒng)，從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化生產(chǎn)。

6、測(cè)量精度可以更高。目前接觸式厚度測(cè)量?jī)x器最小的測(cè)量精度可以達(dá)到0.001mm（即1微米，千分尺），這可以說(shuō)已經(jīng)是極限了，我們?cè)谏钪谐Ｒ?jiàn)的電腦CPU，目前采用的制作工藝已經(jīng)能夠達(dá)到幾納米的級(jí)別，是前者厚度測(cè)量的千分之一倍，所以只能通過(guò)非接觸式測(cè)量的方式才能測(cè)出這類(lèi)電子元件的厚度。

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? ? ? ?非接觸式測(cè)厚儀器設(shè)備由于其自身的特性，可以使用在某些特殊的場(chǎng)合。這類(lèi)非接觸式測(cè)厚儀器設(shè)備相對(duì)接觸式測(cè)厚儀器來(lái)說(shuō)，價(jià)格會(huì)偏高很多，所以在普通的生活中并不宜進(jìn)行推廣，而在產(chǎn)品生產(chǎn)自動(dòng)化上應(yīng)用的較多。畢竟，非接觸式測(cè)厚儀器設(shè)備可以連續(xù)性檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是人工測(cè)量無(wú)可替代的。